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フラウンホーファーHHI、THzでリアルタイム層厚計測

439_IMTS September, 19, 2018Munich― テラヘルツは、非破壊材料検査の重要技術である。主な利点は、物理的接触なしの検査。また、確立された超音波のような方法ではできない、低コントラス範囲で複雑なシステムの分析が可能。フラウンホーファーHHIは、多層システムのリアルタイム厚さ計測をする,コスト効果が優れたコンパクトな計測システムを初めて開発した。これは、例えば、ラッカーライン向けでは重要技術である。新しいテラヘルツ計測システムT-Sweeperは、IMTS展示会で紹介された。  テラヘルツ照射は、10年以上前から、空港のセキュリティスク

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光学・フォトニクスの設計と製造に関する国際会議ODF'18, Hiroshima
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7_アドバンテスト_TS9000シリーズ_画像

テラヘルツ解析システム

掲載日:2015/11/27

テラヘルツ技術を活用し、半導体、プリント基板、電子部品などの配線品質を解析する「TS9000 TDRオプション」の販売を開始した。  電子デバイスの配線品質の解析では、オシロスコープのTDR機能を用

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