テクトロニクス、400G PAM4電気テストの自動化ソリューションを発表

June, 15, 2017, 東京--テクトロニクスは、OIF-CEI-56G VSR/MR/LR PAM4規格の包括的な400G電気コンプライアンス・テストを含む、PAM4テスト・ソリューションの拡充を発表した。
　新製品400G-TXEソフトウエアは、最高周波数帯域70GHzのモデルをラインアップしている高性能リアルタイム・オシロスコープDPO70000SXシリーズで実行される。この新ソリューションは自動ターンキー・ソリューションであり、一度の実行でPAM4のコンプライアンス・テストが行えるため、わずかなテスト時間で高い信頼性、再現性のあるテスト結果、優れた操作性が得られる。
　PAM4の符号化では、NRZ（Non-Return to Zero）に比べてシリアル・データ・チャンネルで2倍のデータ・レートになる。しかし、複雑な変調方式により、テスト、測定において数多くの課題がある。PAM4の数多くの測定仕様は未だに流動的であり、規格で規定されている最新の測定技術でも難しいものになっている。複雑なテスト手順をすべて実行するのに要する時間は大きな課題であり、テスト・システムによって相関がとれる、信頼性のある測定結果も必要になる。
テクトロニクスの400Gソフトウエアは、仕様で規定されているリミットでの電気PAM4信号の検証が可能であり、OIF-CEI仕様レベルのコンプライアンス・テストに完全に対応している。ソリューションには、ISIジッタまたは他の障害を含む、すべての条件において信頼性のある測定結果が得られるデジタル・クロック・リカバリ機能を含んでいる。テクトロニクスの400G-TXEコンプライアンス・ソフトウエアは、規格で求められるテストを1つのアプリケーションで実行し、短時間に、高い信頼性で再現性のある測定結果が得られる、使いやすいソフトウエア。
　コンプライアンス・テストだけでなく、テクトロニクスはリアルタイム・オシロスコープ、等価時間オシロスコープの両方で実行可能なPAM4解析/デバッグ・ソフトウエア・ソリューションも用意しており、BERやアイの高さ/幅などの不良条件で詳細な検証が行える。
　400G-TXEソリューションは、優れた低ノイズ性能、測定確度を持つ、高性能DPO70000SXシリーズの70GHz、59GHz、50GHzリアルタイム・オシロスコープで実行する。OIF-CEIなどのハイスピード規格では、DPO70000SXシリーズで提供されているオシロスコープの周波数帯域が必要。