マルチカラーX線CT撮像 ―微細シンチレータアレイと高感度光センサの融合技術

December, 12, 2024, 東京--東京大学大学院工学系研究科の島添健次准教授と、東北大学金属材料研究所の鎌田圭准教授らによる研究グループは、ダイヤトレンド株式会社、ブルーノ・ケスラー財団（Fondazione Bruno Kessler、イタリア）と協力し新しいタイプのマルチカラーX線CT（Computed Tomography）の技術を確立した。

研究ではシンチレータアレイおよびSiPMアレイを用いた微細X線エネルギー計測技術を開発することで、新たなマルチカラーX線CT技術の確立に成功した。先行研究と比較して、実用的なサイズである250 µm画素サイズで十分なエネルギー分解能を得られることを確認した。また、従来の化合物半導体を用いた検出器と比べ、電荷広がりが抑制できるといった利点もある。今回の成果は今後、X線CT技術の低被ばく化や物質同定などの新たな医学診断に役立つことが期待される。

研究成果は、2024年11月25日（英国時間）に英国科学誌「Communications Engineering」のオンライン版に掲載された。
(詳細は、https://www.t.u-tokyo.ac.jp)