November, 25, 2014, Southampton--サザンプトン大学(University of Southampton)の研究チームは、高信頼で耐久性の高い次世代フォトニックチップ製造を支援する新しい技術を開発した。
光チップの複雑さが増すに従い、そのようなチップのテストや評価が一段と難しくなる。チップ内を伝播する光はシリコンに閉じ込められ、外から見ることも計測することもできない。
この問題を解決するために、サザンプトンの研究チームは、チップ内の光が何時、どこにあるかを見つけ出す新たな方法を開発した。超高速光変調分光(UPMS)というこの技術は、フェムト秒UVレーザを使ってフォトニックチップの微小エリアでシリコンの屈折率を変える。
サザンプトン大学の物理学、天文学および論文の筆頭著者、Dr Roman Bruckによると、屈折率が局所的に変化している中でチップの伝搬をモニタすると、光がそこをどのように流れているかを正確に見ることができる。「これによって、チップ上の個々の光学素子をテストすることができる。これは、問題のない動作を確実にするための設計最適化では重要なステップである。この技術によって起こる変化は完全に元に戻せるので、このテスト法は非破壊であり、テスト後のチップは目的の用途に使うことができる」。
研究チームは、標準的な評価ツールとしてのこの技術を確立することを考えており、これにより開発中のフォトニックチップの信頼性が高まり、市場投入までの時間も短縮できる。