光トランシーバ用デバイス向けテスト・ソリューションを発表

May, 20, 2015, 東京-- アドバンテストは、光トランシーバ用デバイス試験向けテスト・ソリューション「28G OPM (28-gigabit Optical Port Module)」を発表した。
　光トランシーバと光ファイバによる光伝送は、ワイヤーケーブルによる通信と比較して、伝送距離、通信速度、消費電力の全てにおいて大きく優れている。また、光トランシーバは、モバイル通信やクラウド・コンピューティングなどの膨大なデータを送受信するデータセンタ用サーバなどで、幅広く使われるようになってきている。
　光トランシーバ市場は2016年に33億米ドルに拡大すると見込まれている（IHS Infonetics）。また、技術革新により光伝送の高速化が予想されているのに加え、次世代光トランシーバの大幅な価格低下も期待されている。
　このような背景により、光トランシーバ用デバイスの生産量は今後急増すると予想されている。デバイスの試験についても、従来の計測器ベースから、より生産性の高いテスト・ソリューションに移行することが求められている。
　テスト・システム「T2000」の新モジュール「28G OPM」は、100-Gbps光トランシーバ用デバイスを最大8個同時にテストすることができる。デバイス1個につき、28Gbpsの光ポート、電気ポートを各4レーン使用。「28G OPM」を導入することにより、製造サイクルタイムの短縮とテスト効率の向上を低コストで実現できるのに加え、当社のグローバルなサポート体制も活用できる。
　IoT (Internet of Thing) の普及により、データセンタが送受信するデータ量は膨大となり、多くの情報をより早く、そして低コストで送受信できるトランシーバ用デバイスが大量に必要になる。「28G OPM」は、光トランシーバ用デバイスのテスト・コストを削減し、生産性向上をサポートすることで、データセンタのデザインやIoTの発展にも貢献する。