Santec、波長掃引型フォトニクスアナライザ（型式：SPA-100）を発表

March, 8, 2023, 小牧--santec株式会社は、OFDR (Optical Frequency Domain Reflectometry)技術を用いた波長掃引型フォトニクスアナライザ SPA-100を開発した。
新製品は、santec波長可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波長依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置。広帯域波長可変のTSLと組み合わせることで、フォトニクスデバイスの損失点の位置を5umの高い分解能で検出できる。また、光コヒーレント検出技術を採用したことにより、1 回の波長掃引で 70dBを超える広いダイナミックレンジで波長依存損失(WDL)が測定できる。さらに、特許取得済みの近接センシング機能が、ファイバプローブとデバイス間の精密な距離測定を実現し、シリコンフォトニクスデバイス生産ラインにおいてウェハレベル特性評価時のアライメント工程を容易にする。これらの特徴により、同製品は、シリコンフォトニクス及び小型光コンポーネントの開発や生産など様々なアプリケーションで理想的なツールとなっている。

製品の特長
・高分解能　5umの高い距離分解能で分析可能
・広帯域及び高ダイナミックレンジ　最大160nmの広い波長範囲及び70dB以上の高いダイナミックレンジでWDL測定が可能
・近接センシング ファイバプローブとデバイス間距離の精密測定が可能
・ユーザーフレンドリーなGUI (グラフィカルユーザインタフェース)　導波路上の反射点と損失を示すグラフにより障害点を特定し、導波路長や実効屈折率などの解析機能を提供
(詳細は、https://www.santec.com)