NEC、NIST指紋認証技術のベンチマークテストで第1位の評価を獲得

August, 22, 2014, Tokyo--NECは、米国国立標準技術研究所（NIST）が実施した指紋認証技術のテスト(PFTII)において、指紋認証技術が第1位の照合精度を有するとの評価を獲得した。
　テストは、警察や政府機関など異なる組織で採取された約12万件の実運用データにおいて、様々な指の押し方や角度･種類の指紋画像を抽出し、照合精度テストを行うことで、2つの指紋画像が同一のものであるかの評価を行った。
　NECは今回の評価で、平均照合精度が99.47%と、参加ベンダのうちトップの結果を示し、その技術力の高さを確実なものとした。今回のテストに利用した指紋認証技術は、画像ノイズ除去技術を強化したことで、これまで照合エラーが発生しやすかった低品質な指紋画像の照合も可能になり、高精度な個人認証を実現する。
　NECは安全･安心な社会を実現するキーテクノロジーの1つとして、指紋認証技術の開発を40年以上に亘り進めており、同技術を用いたシステムは世界40カ国以上に導入されている。
　今回第1位の評価を獲得した技術を今後、指紋認証と静脈認証を組み合わせた「指ハイブリッド認証製品」にも適用し、より一層の精度向上を図ることで官公庁や企業のセキュリティ強化を支援していく。
　NECは今後、指紋認証技術の更なる改良を進め、高度なバイオメトリクス認証技術を用いた製品･サービスの開発や販売をグローバルに推進し、安全･安心な社会づくりに貢献していく。