December, 10, 2020, 東京--アドバンテストは、T2000 テスト・プラットフォームの高速CMOS画像キャプチャ・モジュール「4.8GICAP(4.8ギガアイキャップ)」を発表した。
スマートフォン・カメラ向けに需要が急拡大しているCMOSイメージセンサ(CIS)のテストにおいて、「4.8GICAP」はCISから取り込んだデータをT2000の高性能イメージ・プロセッサ・エンジン(IPE)に効率的に転送する。64個のデバイスを同時測定できるほか、データ転送速度3.5GspsのC-PHYバージョン1.2や、業界最速となる4.8GbpsのD-PHYバージョン2.1に対応可能な、業界初の量産用テスト・ソリューション。
現在、CISは生産量の75%がスマートフォン・カメラ向けと推計されている。1台のスマートフォンに複数のカメラが搭載されるようになった結果、CISの生産量は今後4年間で約40%増加することが見込まれている(アドバンテスト調査)。さらに、最新のCISは画素数が1億ピクセルオーダーに達している。これらを背景に、高速動作と高い生産効率、そしてこれまでにない大量のデータを処理できるCISテスト・ソリューションへの需要が高まっている。
「4.8GICAP」は2バンクのメモリを使用して、画像のキャプチャと、T2000第3世代IPEへのデータ転送を同時に行い、テスト時間を大幅に短縮できる。また、従来のT2000 ISSテスタで使用するテストプログラム、プローバ、光源、およびデバイスインタフェースとの完全互換性を備えている。64個のCISデバイスの同測テストに加え、MIPI標準のD-PHYや最新プロトコルのC-PHYにも対応し、高速CISのテストに業界最高クラスのテスト性能を提供する。
さまざまな用途に対応可能なT2000テスト・プラットフォームにより、ユーザーは最小限の設備投資で市場ニーズの変化に速やかに対応できるとともに、新製品の開発工期を短縮できる。そのモジュラーアーキテクチャは、次世代の幅広いデバイステストに最適である。
(詳細は、https://www.advantest.com)