テクトロニクス､広範な400G PAM4テスト・ソリューションを発表

March, 14, 2018, 東京--テクトロニクスは、OFC 2018において、業界トップクラスの広範な400G PAM4テスト・ソリューションを展示、発表した。
　前世代のネットワークと比較し、400G、そして複雑なPAM4伝送への移行が特に大きな課題になっている。エンジニアは、さらに小さくなったS/N（信号対ノイズ）比、より高度な設計検証とトラブルシュート・プロセスなど、より複雑なテスト方法に対応しなければならない。
　OFCでは、以下のような、実環境での課題解決のためのソリューションを展示した。
･400G PAM4の研究開発から製造への移行 － テクトロニクスのDPO70000SXシリーズ・リアルタイム・オシロスコープとDSA8300型等価時間オシロスコープをベースとしたソリューションによる、設計から製造へのシームレスな移行を展示。
･優れた光感度による生産性の改善 － 業界トップクラスの低ノイズ、高感度を持ったテクトロニクスのソリューションによって可能になる優れたマージンと高い生産性を紹介。さらに、400G 28/56GBd PAM4測定のための広範な特性評価（TDECQ（Transmitter Distortion Eye Closure Quaternary）の確度、視覚化、解析機能）も展示。
･400G PAM4のデバックと検証 － PAM4変調への移行は検証とデバッグを難しいものにしており、リアルタイム・オシロスコープベースのソリューションでこの問題を解決する。ここでは、DPO70000SXシリーズ・リアルタイム・オシロスコープで利用可能な、最新のイコライゼーション、デジタル・クロック・リカバリ、効果的なエラー・レート解析、オフライン解析を紹介。
･70GHzマルチチャンネル・エンドツーエンド特性評価 － テクトロニクスの光コヒーレント解析ソリューションによる信号の同時取込み／解析と正確で低コストのテスト、最適なトランスミッタ・チューニングによる性能と生産性の改善を展示。
(詳細は､www.tek.com)