CompoundTekとSTAr、SiPhウエハテストで提携

August, 28, 2020, Singapore--CompoundTek Pte Ltd (CompoundTek)とSTAr Technologies Inc (STAr)は、戦略的提携を発表し、コスト効率のよい大量SiPh(シリコンフォトニクス) Wafer Testの基準とソリューションを開発する。
　SiPh技術のすべてのアプリケーションで一貫性と信頼性の要求増に対処することで、SiPh Wafer Testは、より標準的なプロセスを主導することを狙っている、さらに業界でもっと広範に採用され、設計からテスト、検査までのイノベーションを促進することが目標である。

現在、チップへの光コンポーネントの集積には、SiPhデバイスのウエハレベルプロービングで多くの新しい課題がある。概念から認定、さらに製造まで設計を実行するためには、膨大な量のデバイスパフォーマンスデータが必要とされているからである。

「ウエハレベルのシリコンフォトニクステストを市場でもっと広範に採用されるようにするには、コストと効率が改善されなければならない。そのために、提携によって包括的なアプローチが必要であるとわれわれは考えている。それによって、テスト技術価値連鎖の、また製造工程の専門技術が活用できる。それは、計測装置、位置決め、商用化技術の相乗効果である。それによってテスト方法の標準化が促進され、テストしやすいようにチップをレイアウトする方法が標準化される｣とCompoundTekのCEO､Raj Kumarは説明している｡

現在､SiPhテストは､バラバラの非公認基準である｡企業のほとんどは､SiPhベンチソリューションを自作している｡これは､設計評価段階で､小規模エンジニアリング特性評価には適しているが､量産段階のテストで必要とされる高スループット､低コストテストには非効率である｡この市場のギャップに対処するコスト効率のよいソリューションを持つ独立系のSiPhウエハテストサービスプロバイダは存在しない｡こうした能力を利用することで業界は､プロトタイピングから量産へのプロセスに関連する製品コストを下げることができ､Time to Market促進に役立つ｡

SiPhの形での技術シフトは､スピード､消費電力､密度で計測可能な利益の可能性を示している｡SiPh革命の最初の波は､世界中のデータセンタで､銅線の限界を破る光インタコネクトの投資の展開である｡

(詳細は､https://compoundtek.com/)