FormFactorとKeysight､提携してSiPh検査ソリューション

July, 4, 2018, Livermore--半導体産業向けの電気試験と計測サプライヤ､FormFactor, Incは､シリコンフォトニクス(SiPh)デバイスのウエハレベル検査にCM300xiプロービングソリューションを導入､組み込んだと発表した｡GLOBALFOUNDRIES, FormFactor および Keysightのチームは協働して､同システムがエンジニアリングニーズを満たす融通性があり､量産で高スループットを確実に提供できるようにする｡
　シリコンフォトニクス(SiPh)は､電気信号の代わりに光信号を使い高速で膨大な量のデータ転送を可能にする｡シリコンフォトニクス市場は､データセンタ､自動車および他のアプリケーションで勢いづいている｡パワーとサイズを低減し､シリコン半導体製造技術を使うことで､それが光デバイスのコスト効果を高めるからである｡世界のシリコンフォトニクス市場は､Inkwood Researchによると､2017-2025年にCAGR 22.3%で成長する見込である｡

FormFactorのCascade CM300xiとKeysight TechnologiesのPhotonics Application Suite計測ソフトウエアと組合せ､業界初の自動アライメント､光-光および光-電気デバイステストを同時に行う｡システムの主要な特徴は次の点である｡

･精密アライメント向け6軸自動光ファイバ位置決め
･粗いアライメントと精密アライメントの両方に2段階ソリューション
･テスト時間短縮のために高速ハードウエア制御に統合した光アライメントアルゴリズム
･FormFactorのSiPhソフトウエアは､ KeysightのPhotonics Applications Suiteや光計測器との統合を簡素にする｡
･高速､正確な計測のためにカスタマイズされたスクリプトとテストプログラムがシステムを最適化する｡
･Keysightの高速､単掃引PDLテストにより､事前の偏波アライメントなしで高精度､高再現性テストが可能になる｡

｢GFのシリコンフォトニクスは､標準的なシリコン製造技術を利用して､製造効率を改善し､光インタコネクトシステムを導入する顧客のコストを低減する｣とGFの製品､テスト､故障解析担当VP､Jeffrey Lam氏は話している｡
　また､FormFactorの社長/CEO､Mike Slessor氏は､｢シリコンフォトニクスのような新しい技術が､完全統合プローブシステム開発の機会をFormFactorに与える｡GFは､これら新しいテスト技術採用では､先見の明がある企業である｡当社とKeysight､GF Singaporeの提携により､シリコンフォトニクスデバイス固有のテスト､計測課題に完全に対処するソリューションが得られる｣とコメントしている。
(詳細は､https://www.formfactor.com/)