Jenoptik､PICウエハレベルテストに新しいUFO Probe Card

November, 26, 2020, Jena--Jenoptikは、電子テストカードへの組込に新しい光ソリューションを提供する。超高速オプトエレクトロニックプローブカード、UFO Probe Cardは、光機能を集積した半導体チップ、PICsの機能テストに使用される。顧客の要求に適応可能である。

Jenoptikの新しいUFO Probe技術は、半導体装置市場、マイクロエレクトロニクスにおけるウエハレベルテストプロセスをターゲットにしている。この技術は、フォトニック集積回路の光プロービングコンセプトをベースにしており、ウエハプローブのアライメントトレランスの影響を受けない。その結果、オプトエレクトロニックカードは、市販のウエハプローブとともに使用でき、結果的にPICsテストの高スループットが保証される。

新しいハイブリッドプローブカードは、1つのソリューションに電気テストと光テストを統合している。これにより、PICの多数の光チャネルと電気チャネル、複数のPICsでも並行テストできる。アライメントは無視できるので、量産アプリケーション向けオプトエレクトロニックテスト要求に応えることができる。プローブカードの設計は、特殊要求に応ずるようにカスタマイズ可能である。例えば、個別のPICレイアウト、特殊テスト配置など。最初の連続稼働は、この新技術による計測が成功した。

Jenoptikは、プローブカードメーカーと協働して、その光モジュールを確立された実証済みのニードル技術に組み込む。UFO Probeの最初のプラットフォームバージョンは、カンチレバーニードルを持つEurocardフォーマットで利用可能。また、要求により多様なアプリケーションに適応可能である。

(詳細は、https://www.jenoptik.com)