November, 12, 2020, Farum--Ibsen Photonicsは、Texas InstrumentsのDLP Pico技術が重要な役割を果たす、新しい革新的なOEM分光計、PEAK XNIRを発表した。
PEAK XNIRは、非常に高スループットである。これは、再帰反射先進的光学設計、高効率透過回折格子および高NA 0.22によるものである。再帰反射設計により、約63 mm x 50 mm x 77 mmのコンパクトフォームファクタが可能になり、分解能、感度、環境耐久性も高い。波長範囲は、1650 – 2400nm、10nm分解能は、市場にあるこの種の分光計で最高のものの一つである。
「PEAKプラットフォームにより、分光機器で全く新しい次元のプログラマビリティが実現する。これは、市場にある他の分光技術では不可能な特徴である」とIbsen Photonicsの事業開発、販売&マーケティングVP、Thomas Rasmussenはコメントしている。
PEAK XNIRは、制御エレクトロニクスを搭載しており、イプセンのWindow XNIR Evaluation Softwareを利用する。高度なコラムとHadamardスキャン機能によりSNRが改善されている。HDI標準インタフェースを利用して独自のソフトウェアをプログラムでき、FPGAレジスタに読取/書込み操作ができる。
PEAKは、TIのDLP技術と組み合わせて、イプセンの高効率溶融シリカ透過回折格子を利用し、スペクトルプログラムができる。
「近赤外分光設計者は、高スループット、高精度に詳細な材料情報を迅速に収集できるアプリケーションを開発するという困難に直面している。イプセンは、同社の新しいPEAK XNIR分光計プラットフォームのプログラマブル波長セレクタとしてDLP技術を利用して、10nm精度でリアルタイム計測結果を収集することができた」とTI DLP Picoディスプレイと光制御ジェネラルマネージャ、 Frank Moizioはコメントしている。
透過回折格子使用のもう1つの利点は、非常に小さな製品毎の性能変動でPEAKを量産できることである。PEAK XNIRにより、生物製薬や食品製造でプロセス分析ツールのメーカーは、もはや性能に妥協する必要がなくなる。
(詳細は、https://ibsen.com)