November, 18, 2016, Espoo--アールト大学(Aalto University)、Hele Savin教授の研究チームは、可視、UV、赤外波長をカバーするフォトンの96%以上をとらえることができる新しい光ディテクタを開発した。
「現在の光ディテクタは、強い反射損失が問題になっている。これは、現状使用されている反射防止被覆が特殊波長および固定入射角に制限されているからである。われわれのディテクタは、ナノ構造面を活用することでそうした制限なしで光をとらえている。低入射角は、発光X線センサでは特に有用である」とSavin教授は説明している。
「また、集光に半導体pnジャンクションを利用する従来のセンサに存在する電気的損失にも対処した。 われわれのディテクタは、集光のためのドーパントを全く必要としない。代わりに、われわれは、薄膜に堆積した原子層により生成される反転層を利用する」。
新しい光検出コンセプトは、ナノ構造太陽電池に関する研究チームの以前の研究からヒントを得た。光ディテクタで使用されるナノ構造は、数年前に研究チームが記録的な効率のブラックシリコン太陽電池で使用したもの同類である。
研究チームは、この新しい光ディテクタの特許を申請している。プロトタイプディテクタは現在、医療、安全に関係するイメージングアプリケーションでテスト中である。