マクファーソン、300～1nm波長を計測する高エネルギーXUV分光計

December, 9, 2015, Chelmsford--マクファーソン(McPherson)の入射波長を見る分散型分光計は、1～300nm波長域(4～1200eV)でスペクトル光を素早く分析する。
高調波レーザ発生実験の他に、Model 248/310は、イオン、放電光の計測、宇宙物理学検出器校正にも使える。FLASHでは、ドイツDESYにある、自由電子レーザ実験で、McPherson 248/310 UHVモデルは、2.3～4.4nmウォータウインドウ(光に対して透明な領域)の分析を支援した。ロシアのベルゴロッド州立大学、放射線物理学研究所では、Model 248/310分光計は、エックス線および高速電子と凝縮物質との相互作用を研究し、チェレンコフ放射を計測する。
　同社によると、世界中の核融合実験炉が、McPherson XUV分光計ツールを使用している。
　真空紫外、EUV、XUV向けの測定器を必要とする宇宙科学者、プラズマ物理学者は、McPherson 248/310分光計の範囲と柔軟性をフルに生かす。逆順に設定すると同装置は、チューナブル光源として動作する。これは、スペクトル校正、真空紫外、極紫外、ソフトエックス線(EUV、SXR)分光学に有用である。ダイレクトディテクションCCDs、イメージインテンシファイア、マイクロチャネルプレート、電子増倍管が、幅広く柔軟な検出を可能にする。
　Model 248/310は、完全アセンブリ、スペクトル分解のテスト済み、真空リークテスト証明付で出荷している。
(詳細は、www.mcphersoninc.com)