ライカ、解像度サブ30nmを達成したパルスSTEDレーザ

May, 30, 2014, Mannheim--ライカマイクロシステムズ(Leica Microsystems)は、超解像システムLeica TCS SP8 STED 3Xに新しいパルス775nm STEDレーザを発表する。
　パルス誘導放射抑制技術によりサブ30nm解像度を達成。レーザは、同システムのオプション機能強化であり、オスロで開催されたヨーロッパ光学顕微鏡イニシアティブ(ELMI)会議で初めて紹介された。
　Leica TCS SP8 STED 3Xは、最新世代の超解像顕微鏡で、誘導放射抑制(STED)技術をベースにしている。この超解像顕微鏡システムは柔軟性、多目的性を備えており、研究者は横方向と軸方向で解像度を調整できる。775nmパルスSTEDレーザは、多様な波長のSTEDレーザへの最新の追加光源。この新しいパルスレーザにより、Leica TCS SP8 STED 3Xの解像能力はさらに高まり、マルチカラー共存実験でこれまで見られなかった細部が明らかになる。
　Leica TCS SP8 STED 3Xは、モジュラープラットフォームLeica TCS SP8をベースにしている。
(詳細は、www.leica-microsystems.com)