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IEC 60512-29-100 第1版-電子機器用コネクタの試験

IEC 6 0512-29-100 の第1版が発行された。
 規格の表題は「電子機器用コネクタ試験及び測定-第29-100 部: M12 スタイルのコネクタ上の500 MHz 以下の信号インテグリティ試験-試験29a ~ 29g」である。
 IEC 60512-29-100:2015 は、500 MHz までのM12 スタイルコネクタの伝送性能の試験方法を指定する。この規格の詳細仕様の要求事項に適合していれば、より低い周波数のコネクタの試験にも適している。
 記載されている試験方法は、以下の通りである。
 - 挿入減衰量、試験29a
 - 反射減衰量、試験29b
 - 近端クロストーク(NEXT)、試験29c
 - 遠端クロストーク(FEXT)、試験29d
 - 横方向変換損(TCL: transverse conversion loss)、試験 29f
 - 横方向変換転送損(TCTL: t r a n s ve r s e c o n ve r s i o ntransfer loss)、試験 29g
 伝達インピーダンス(ZT) 試験については、IEC 60512-26-100 の試験 26e を参照。結合減衰量はISO/IEC 11801 を参照のこと。全ての試験方法は2つ又は4つのペア・コネクタに適用する。
 詳細はIECのウェブへ。(2015/03/05)