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スポットプロファイラー
掲載日：2011/6/03
日本レーザーは、自社ブランドのスポットプロファイラー、JSP20の販売を2011年6月10日から正式に開始する。価格は140万円～で、初年度は日本国内で30セットの受注を見込んでいる。
レーザの集光スポットをプロファイル観察する場合、スリット型のプロファイル測定装置が主力。しかしながら、このスリット型では測定に時間がかかり、パルスレーザを測定できない、といったような問題がある。本製品を用いると、レーザの集光スポットを瞬時に測定できるため、パルスレーザに対応でき、パルス光の連続的なモニタも可能になった。
JSP20は、対物レンズなどの光学系を通過したレーザ光のプロファイルを焦点位置で瞬時に解析可能な計測機器。スリット方式ではないのでパルスレーザの解析にも対応可能、レーザ出力にもほとんど影響を受けないために幅広い種類のレーザに対応し、多様な軸と微動マイクロ機構を採用しているので位置調整も非常に容易である。
また、シリコンやガラスなどの物質内部での集光スポットも容易に観察できるオプション機能もある。その他、本装置の組込、特殊用途下での使用、および対応波長などに関しても相談を受付けている。
レーザ加工機のメーカーおよびユーザ、レーザ測定器のメーカーおよびユーザ、その他にレーザを使用あるいは開発している研究機関などでの需要を見込んでいる。
(株)日本レーザー
システム機器部
Tel: 03-5285-0862
www.japanlaser.co.jp
