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アドバンテストV93000 Smart Scale」をAvagoが採用
December 10, 2013, 東京--アドバンテストは、Avago Technologies Limitedの光ファイバ製品部門(FOPD)が、高速バックプレーンやワイヤレス通信などのアプリケーションに使われる光トランシーバの試験向けに、テスト・システム「V93000 Smart Scale」を採用したと発表した。光ファイバ製品の評価にアドバンテストのテスト・システムが適用されるのは今回が初めてとなる。
「V93000 Smart Scale」は、コンパクトな装置面積、フレキシブルな性能、DC試験用デジタル・チャネル・ピンなどの先進的な機能でAvagoのニーズに応える。今回Avagoに採用された「V93000 Smart Scale」プラットフォームは、「A-class」テスト・ヘッド、2枚のPin Scale 1600デジタル・チャネル・モジュール、およびVI32 デバイス電源モジュールを備え、最先端ノードの多数個同測試験を可能にするマルチサイトのウエハソート・ソリューション。また、「ユニバーサル・パーピン・アーキテクチャ」により、テストコストを抑えた最適なソリューションを提供できる。
Pin Scale 1600モジュールは、今までにないDC精度を実現し、供給電圧の低い28nmノードの半導体試験における課題を解決する。このモジュールはオン・ザ・フライ・パターン変更、ピン毎の非同期なクロック設定が可能なclock-domain-per-pinのほか、protocol-engine-per-pin、PRBS-per-pin、SmartLoop などのパーピン機能が搭載されており、同測テスト効率がさらに向上した。また、DC Scale VI32モジュールは16～32チャネルで設定することができ、複数のアプリケーションへ精度の高い電圧供給と、複数の電源ドメイン設定を可能としている。
AvagoのFOPDシニア・ディレクタ、Faouzi Chaahoub氏は「V93000 Smart Scaleの採用により、従来のソリューションと同等のコストで、SoCテスト・システムの幅広い機能とスケーラビリティを獲得することができた。さらに、マルチサイト・テスト能力が従来の方式に比べて4倍に増えた。今後は、量産用テストの大半をV93000 Smart Scaleに移行する予定である」とコメントしている。
「V93000 Smart Scale」は、コンパクトな装置面積、フレキシブルな性能、DC試験用デジタル・チャネル・ピンなどの先進的な機能でAvagoのニーズに応える。今回Avagoに採用された「V93000 Smart Scale」プラットフォームは、「A-class」テスト・ヘッド、2枚のPin Scale 1600デジタル・チャネル・モジュール、およびVI32 デバイス電源モジュールを備え、最先端ノードの多数個同測試験を可能にするマルチサイトのウエハソート・ソリューション。また、「ユニバーサル・パーピン・アーキテクチャ」により、テストコストを抑えた最適なソリューションを提供できる。
Pin Scale 1600モジュールは、今までにないDC精度を実現し、供給電圧の低い28nmノードの半導体試験における課題を解決する。このモジュールはオン・ザ・フライ・パターン変更、ピン毎の非同期なクロック設定が可能なclock-domain-per-pinのほか、protocol-engine-per-pin、PRBS-per-pin、SmartLoop などのパーピン機能が搭載されており、同測テスト効率がさらに向上した。また、DC Scale VI32モジュールは16～32チャネルで設定することができ、複数のアプリケーションへ精度の高い電圧供給と、複数の電源ドメイン設定を可能としている。
AvagoのFOPDシニア・ディレクタ、Faouzi Chaahoub氏は「V93000 Smart Scaleの採用により、従来のソリューションと同等のコストで、SoCテスト・システムの幅広い機能とスケーラビリティを獲得することができた。さらに、マルチサイト・テスト能力が従来の方式に比べて4倍に増えた。今後は、量産用テストの大半をV93000 Smart Scaleに移行する予定である」とコメントしている。
