Laser Focus World JAPAN　レーザーフォーカスワールドジャパン

November 28, 2013, Osaka--大阪大学、慶應義塾大学、理化学研究所、信州大学は共同で、X線自由電子レーザ(XFEL)施設SACLAにおいて、ナノ粒子の粒度分布と内部組織を複合的に解析する方法を開発した。
研究グループは、Ｘ線自由電子レーザ施設SACLAにおいて、形状制御金属ナノ粒子から１万枚にもおよぶコヒーレントX線回折強度パターンを短時間で高効率に収集することで、統計的構造解析を可能とし、粒度分布を導出することに成功した。また、コヒーレントX線回折パターンに位相回復計算を実行することで、粒子の電子密度分布の投影を10nmより優れた分解能で可視化し、粒子径と内部組織の関係を明らかにした。
この研究により、SACLAでのコヒーレント X線回折イメージングによってナノ材料の形状・サイズおよび内部組織の統計解析が可能であることが示された。この新しい技術は、今後、革新的なナノ材料の設計・創製に繋がると期待されており、より高速で実施可能な形態へ進化を遂げるために、測定装置や解析プログラムの改良が進められている。
これは、大阪大学大学院工学研究科の高橋幸生准教授、慶應義塾大学理工学部物理学科の中迫雅由教授、理化学研究所放射光科学総合研究センター利用システム開発研究部門の山本雅貴部門長を中心とする共同研究グループによる成果。