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テクトロニクス、短距離/長距離100G/400Gテストソリューション

September 26, 2013, Beaverton--テクトロニクス(Tektronix, Inc)は、短距離と長距離(LH)両方で100G光ネットワークテストをサポートする。
同社は、ECOC 2013で、80C15 32GHzマルチモード光サンプリングモジュールとOM5110 46Gbaudマルチフォーマット光トランスミッタを発表した。これにより次世代光ネットワークで使用されるコヒレント変調方式、シリコンフォトニクスコンポーネント、ネットワークエレメントやシステムのテストが強化される。
今回の発表は、光ネットワーキングデザインや製造市場で変化するダイナミクスを反映している。高速光ネットワーキングは、短距離データセンタアプリケーションでますます多く使われるようになる。このため、100GbE(4×25G)システムで使われるマルチモード850nm / 1310nm信号の解析をサポートするテスト装置の需要が伸びる。LHアプリケーションでは、ファイバ帯域を最大限利用するために設計者はコヒレント変調技術、PM-QPSK、PM-16QAMなどのフォーマットを利用するので、最適パフォーマンス、低いビット誤り率を確認できるテストシステムに需要が生まれる。
「80C15でテクトロニクスは、高精度マルチモード短距離テストソリューションに対する市場要求に応える。これはラボでも製造環境でも使える。既存ファイバで、より効率的なLH伝送に対する強い要求に対処するためにOM5110のような測定器グレードのトランスミッタは、開発者や設計者がコヒレント光変調方法を深く理解するのに役立つ」とテクトロニクスのパフォーマンスオシロスコープ、ジェネラルマネージャ、Brian Reich氏は説明している。

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