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ファイバ接続型のテラヘルツ発生・検出器でテラヘルツ研究をサポート
June 6, 2013, 東京--アドバンテストは、テラヘルツ波を用いた非破壊解析装置の新製品として、「テラヘルツ分光・イメージング解析プラットフォーム」を開発した。
同製品では、テラヘルツ波の発生および検出部をファイバ接続型モジュールとすることで、測定エリアの自由なレイアウトを可能にし用途が大きく広がった。テラヘルツ波応用研究や、測定アプリケーションの開発をサポートし、テラヘルツ技術の新たな可能性を拓く。出荷開始は2013年10月の予定。
製品は「テラヘルツ光サンプリング・システム」「テラヘルツ発生モジュール」「テラヘルツ検出モジュール」によって構成されている。
・テラヘルツ光サンプリング・システム TAS7500TS
テラヘルツ波の発生・検出源となるパルスレーザ出力と信号解析機能を備えた、卓上サイズの装置。独自の技術により、1回のスキャンあたり最速1msecの高速測定を実現。また、最大2系統のレーザ同期出力を搭載し、差分測定などを可能にした。
・テラヘルツ発生モジュール TAS1110、TAS1120、TAS1130
・テラヘルツ検出モジュール TAS1230
パルスレーザをテラヘルツ波に変換し被測定物に照射するモジュールと、被測定物を透過または反射したテラヘルツ波を検出するモジュール。解析システムにケーブル接続するだけで、複雑な調整を行うことなく使用することができる。ケーブルは1.5mの長さがあり、測定対象に合わせてフレキシブルな配置が可能。発生モジュールは帯域別に「TAS1110」「TAS1120」「TAS1130」の3品種を揃え、特に「TAS1130」は広帯域かつ優れたスペクトル平坦性を備える。
同製品では、テラヘルツ波の発生および検出部をファイバ接続型モジュールとすることで、測定エリアの自由なレイアウトを可能にし用途が大きく広がった。テラヘルツ波応用研究や、測定アプリケーションの開発をサポートし、テラヘルツ技術の新たな可能性を拓く。出荷開始は2013年10月の予定。
製品は「テラヘルツ光サンプリング・システム」「テラヘルツ発生モジュール」「テラヘルツ検出モジュール」によって構成されている。
・テラヘルツ光サンプリング・システム TAS7500TS
テラヘルツ波の発生・検出源となるパルスレーザ出力と信号解析機能を備えた、卓上サイズの装置。独自の技術により、1回のスキャンあたり最速1msecの高速測定を実現。また、最大2系統のレーザ同期出力を搭載し、差分測定などを可能にした。
・テラヘルツ発生モジュール TAS1110、TAS1120、TAS1130
・テラヘルツ検出モジュール TAS1230
パルスレーザをテラヘルツ波に変換し被測定物に照射するモジュールと、被測定物を透過または反射したテラヘルツ波を検出するモジュール。解析システムにケーブル接続するだけで、複雑な調整を行うことなく使用することができる。ケーブルは1.5mの長さがあり、測定対象に合わせてフレキシブルな配置が可能。発生モジュールは帯域別に「TAS1110」「TAS1120」「TAS1130」の3品種を揃え、特に「TAS1130」は広帯域かつ優れたスペクトル平坦性を備える。
