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LetiとMenapic、材料分析共同プロジェクトを立ち上げ

March 12, 2013, Grenoble/Lille--CEA-Letiとメナピック(Menapic)は、APiC(colored picosecond acoustics)技術を材料分析に適用するための共同開発プログラム(JPD)を発表した。
Menapicの説明によると、APiC技術は、薄膜の機械特性評価のための画期的なツールであり、ナノスケールの構造で超音波原理を再現する。分光パルスレーザ光源を用いて薄膜スタックの中で音響波を生成。スタック内の音響パルスの伝搬を解析することでAPiCは、各レイヤの評価を行う。LetiとのJDPでは、この技術の利用をマイクロエレクトロニクスや薄い材料の分析に拡張することが計画されている。
Menapicは、フランスLilleのスタートアップで、同社特許のAPiC技術を用いて薄膜の物理特性を評価する。主にサブミクロンスケールでの機械特性評価にフォーカスしており、半導体、ガラス、マイクロ技術市場をターゲットにしている。アプリケーションの範囲は、マイクロ技術、ナノテクから表面機能化まで。同社は積極的にR&D提携に取り組んでいる。

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