Laser Focus World JAPAN　レーザーフォーカスワールドジャパン

January 31, 2013, Santa Clara--アジレント(Agilent Technologies Inc)は、1月末カリフォルニア州サンタクララコンベンションセンターで開催されたDesignConで32Gb/sビット・エラー・レシオ・テスタ(BERT)を紹介した。
クラウドコンピューティング、ビッグデータに対応するデータセンタインフラストラクチャの新時代が、100GbEや32Gb/s FCなどの新しい高速データ転送標準の開発を後押ししている。高速化によって、光や電気のコンポーネント設計者は新たな設計課題に直面している。コンポーネント評価が厳しくなることで、立ち上がり/立ち下がり時間の高速化が求められている。光トランシーバや送信器光サブアセンブリ(TOSA)は、標準的なパタンジェネレータが提供できないような高い駆動電圧を必要とする。
こうした問題に対処するために、AgilentはN4960A BERT用にリモートマウント可能なパタンジェネレータヘッドを市場投入している。この新しいパタンジェネレータヘッド(N4951B Option H32/Option H17)では、立ち上がり/立ち下がり時間が12psに改善されており、ASIC設計者は、テストピンでの信号忠実性に必要なヘッドルームが得られる。
加えて、これらのニューオプションはパタンジェネレータに、より高い電圧出力のドライバを組み込んでいる。これにより光トランシーバの設計者は、100GbEやOIF-CEI-28Gなどの高いデータレートのアプリケーション向けのVCSEL、TOSA、レーザ変調器を直接駆動することができる。外部の駆動アンプ、関連するインターコネクトケーブルや電源は不要となる。
Agilentのデジタルフォトニクステスト部門のジェネラルマネージャ、VP、Jürgen Beck氏は、「当社の広範なBERTソリューションで、R&D、検証解析、製造アプリケーション向けに選択肢を用意している。当社のBERTのそれぞれから、正確で再現性のよいテスト結果が得られるので、エンジニアは厳密なパフォーマンス評価を行い、業界標準に準拠していることを確認できる」とコメントしている。