Laser Focus World JAPAN　レーザーフォーカスワールドジャパン

August 22, 2012, つくば--産業技術総合研究所(産総研)と次世代化学材料評価技術研究組合(CEREBA)は共同で、発光中の多層積層有機EL素子内部の有機層界面にある特定の分子の振る舞いを選択的に測定する手法を開発し、素子内の電荷の振る舞いを分子レベルで計測することに初めて成功した。
研究グループは、産総研ナノシステム研究部門ナノシステム計測グループ 宮前孝行主任研究員、フレキシブルエレクトロニクス研究センター印刷エレクトロニクスデバイスチーム 高田徳幸研究チーム長。
この手法は、「最先端のレーザ分光計測法を駆使し、有機EL素子内にある特定の有機層界面の分子の振動スペクトルを計測するように改良したもの」であると言う。さらに有機ELの測定では電場が集中する界面からの信号を増強する現象を利用することで、素子を破壊することなく発光している多層積層した有機EL素子内部の有機層の分子の状態を評価できる。産総研の先端計測の技術基盤と、CEREBAの実践的な有機EL素子作製・評価技術の融合から生み出された、世界初の成果。
次世代薄型テレビやスマートフォン、さらにはフレキシブルデバイスに有機ELを用いるには、実用レベルにある素子の内部で起こる劣化を詳細に調べる必要がある。産総研では、今後この手法を用いて動作時や長時間駆動させた有機EL素子内部の分子レベルの情報を継続的に調べ、有機ELの駆動機構や長寿命化に必要不可欠な劣化メカニズムの分子レベルでの解明を目指している。また有機EL素子だけではなく有機太陽電池や有機トランジスタなど、さまざまな有機エレクトロニクスデバイスの評価・解析への応用も射程にいれている。
(詳細は、「Applied Physics Letters」の2012年8月15日 online)