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イェニスタ、可変バックリフレクタモジュール発売
August 16, 2011, Lannion--イェニスタ(Yenista Optics)は、多チャネルOSICSプラットフォームに可変バックリフレクタモジュールを追加した。OSICS BKRモジュールは、1250~1650nmまでの波長範囲で55dBまでの反射を制御できる。
バックリフレクション(リターンロス)は、すべての光システムに見られるパラメータで、光ファイバのレイリ散乱の結果、また光コンポーネント内の屈折率ミスマッチによって生ずる。粗悪コネクタあるいはオープンコネクタもリターンロスの原因になる。一連の動作条件下で、リターンロスを管理し、コンポーネントやシステムをテストすることはシステム設計と評価の重要な一部をなす。OSICS BKRは簡素化されたソリューションとなっている。さらに、多チャネルOSICSプラットフォームの一部として、光源、光スイッチ、VOAなど、他のテスト機器と統合することができる。モジュールは手動でも、GPIBやRS-232インタフェース経由でも制御可能。
販売/マーケティング部長、David Heard氏によると、同モジュールは特にトランシーバにストレスを与えてリターンロス感度の計測、オープンコネクタが問題になるPONシステムテストに有効。
バックリフレクション(リターンロス)は、すべての光システムに見られるパラメータで、光ファイバのレイリ散乱の結果、また光コンポーネント内の屈折率ミスマッチによって生ずる。粗悪コネクタあるいはオープンコネクタもリターンロスの原因になる。一連の動作条件下で、リターンロスを管理し、コンポーネントやシステムをテストすることはシステム設計と評価の重要な一部をなす。OSICS BKRは簡素化されたソリューションとなっている。さらに、多チャネルOSICSプラットフォームの一部として、光源、光スイッチ、VOAなど、他のテスト機器と統合することができる。モジュールは手動でも、GPIBやRS-232インタフェース経由でも制御可能。
販売/マーケティング部長、David Heard氏によると、同モジュールは特にトランシーバにストレスを与えてリターンロス感度の計測、オープンコネクタが問題になるPONシステムテストに有効。