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アドバンテスト、T2000テスト・システムに新ソリューション
October 29, 2010, 東京--アドバンテストは、SoCテスト・システム「T2000」で、12.5Gbpsまでの高速インタフェース測定を可能にする新ソリューションの提供を開始した。これにはアジレント・テクノロジー社（AgilentTechnologies）が販売する「N6010A Serial Port Parametric Test Module」を使用する。
PCI Express Gen3やEthernet等、半導体のインタフェースは高速化しており、その高速インタフェースのテスティング要求が強くなってきている。「T2000」は、オープン・アーキテクチャのもと、ユーザーの試験要求に合わせてフレキシブルに構成を組むことができるテスト・システム。この「T2000」にアジレント・テクノロジー社製「N6010ASerial Port Parametric Test Module」を搭載することにより、12.5Gbpsまでの高速インタフェース・テスト及び特性評価を可能にする。
従来、このクラスの高速インタフェース特性評価は、計測器によるソリューションが一般的だった。インタフェースの高速化や高速信号が増加したSoCデバイスの測定では、何種類もの電子計測器を組み合わせて1信号しか計測できなかったため、効率的に測定できるソリューションが求められていた。
今回、アドバンテストとアジレントが提案する「T2000」と「N6010A」による新たなソリューションは、1モジュールで、高速インタフェースの増加した高速信号の同時測定を実現し、評価効率を大幅に向上させる。また「N6010A」は、「T2000」のアドバンテスト製モジュールと制限事項なく、完全な同期動作が可能となっている。これにより高速インタフェースを持つ複雑なSoCデバイスのシステムレベルでの評価が可能になる。
PCI Express Gen3やEthernet等、半導体のインタフェースは高速化しており、その高速インタフェースのテスティング要求が強くなってきている。「T2000」は、オープン・アーキテクチャのもと、ユーザーの試験要求に合わせてフレキシブルに構成を組むことができるテスト・システム。この「T2000」にアジレント・テクノロジー社製「N6010ASerial Port Parametric Test Module」を搭載することにより、12.5Gbpsまでの高速インタフェース・テスト及び特性評価を可能にする。
従来、このクラスの高速インタフェース特性評価は、計測器によるソリューションが一般的だった。インタフェースの高速化や高速信号が増加したSoCデバイスの測定では、何種類もの電子計測器を組み合わせて1信号しか計測できなかったため、効率的に測定できるソリューションが求められていた。
今回、アドバンテストとアジレントが提案する「T2000」と「N6010A」による新たなソリューションは、1モジュールで、高速インタフェースの増加した高速信号の同時測定を実現し、評価効率を大幅に向上させる。また「N6010A」は、「T2000」のアドバンテスト製モジュールと制限事項なく、完全な同期動作が可能となっている。これにより高速インタフェースを持つ複雑なSoCデバイスのシステムレベルでの評価が可能になる。
