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フォトンキネティクス、ファーフィールドスキャナを発表

March 17, 2011, Los Angeles--フォトンキネティクス(Photon Kinetics)は、シングモードファイバ(SMF)のモードフィールド径やエフェクティブエリアを計測する業界初の広帯域ファーフィールドスキャナを販売する。
2201-3ファーフィールドスキャナは、1台で波長500~1700nmの範囲にわたりファイバの評価をすることができる。2201-3は、すでに発表している、500~1000nmもしくは900~1700nmの計測用に設計された2201のシングルウインドウ構成への追加となる。これら3つの構成全てが、分解能0.09°、ダイナミックレンジ75dBの性能となっており、通信および特殊用途SMFの開発者やメーカーは、自動化された、製造フレンドリなテストプラットフォームにより実験室品質の測定ができる。
同社によると、2201は、モードフィールド径計測精度の標準機となっており、さらにエフェクティブエリア、マルチモードNAといったファーフィールドパタンから引き出せる計測でも標準機となっている。フォトンキネティクスの販売/マーケティング担当VP、Warren Hill氏によると、今回の新製品は、1台でファイバを広帯域にわたり計測したいという顧客の求めに応じて開発された。
2201は、ワイドレンジの標準的な、もしくは特殊な波長の内部光源を取り付けることができる。特殊内部光源、チューナブルレーザのような外部光源もサポートしている。

高PMD区間検出技術
高PMD区間特有の極めて短い偏波変動周期を観測することで当該区間を特定できる。高PMD区間の偏波変動周期は、数十cm程度であり、かつ中継網を測定対象とするため、数cmレベルの分解能にて40km以上を探索可能な光反射計が必要であり、PNC-OFDRは測定距離40kmにわたって5cmの分解能を実現しているため、高PDM区間の特定が可能になった。

長距離高分解能反射計技術
従来のC-OFDR技術は光源の波長揺らぎ(位相雑音と呼ばれる)の影響で、測定距離が長くなると分解能が著しく劣化し、長距離に渡って高精度な測定を実施することが困難だった。PNC-OFDRはその位相雑音を光干渉計でモニタリングしながら測定を行い、モニタした位相雑音の情報を元に測定信号から計算処理で雑音成分を取り除く。これにより、通常2km程度に制限されてしまうOFDRの高分解能測定可能な距離を40kmまで拡大した。
今回得られた成果では、測定可能距離が40kmであるため、中継区間が80kmまで延伸している現在の伝送路においては、両端からの測定が必要となる。NTT研究所は、今後、測定距離を80kmまで延伸し、片端からの測定のみで検出可能になるよう研究を進める。同時に、一層の検出精度の向上に向け、研究開発を推進し、2~3年後の実用化を目指している。また、PNC-OFDRは、光ファイバ網のPMD区間検出に応用可能であるだけでなく、光ファイバケーブルの製造時におけるPMD 検査のほか、温度や歪みの検出機構として各種製造装置や常時モニタリングシステムなどへの応用が可能であるため、NTTは「産業界へ広く普及できるよう多分野への幅広い技術の応用を模索していく」としている。

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