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SIIナノテク、独スペクトロ社製ICP発光分光/質量分析装置を発売

February 8, 2011, 千葉--セイコーインスツル(SII)の100%出資子会社、計測分析装置の製造販売を行っているエスアイアイ・ナノテクノロジー(SIIナノテク)は、独スペクトロ社(SPECTRO Analytical Instruments GmbH)と日本国内における販売契約を締結した。
SIIナノテクは、2月1日よりスペクトロ社製のマルチ(多元素同時)分析タイプのICP発光分光分析装置「SPECTRO ARCOS(スペクトロ アルコス)シリーズ」、 「SPECTRO GENESIS(スペクトロ ジェネシス)」およびICP質量分析装置「SPECTRO MS(スペクト ロ エムエス)」の販売を開始した。
ICP発光分光分析装置(ICP-OES、もしくはICP-AES)および、ICP質量分析装置(ICP-MS)は、極微量の元素分析が高精度にできるため環境、材料、半導体、医薬などの幅広い分野において研究開発や品質管理に使用されるほか、各種の公定法にも採用されている。
SIIナノテクが販売するスペクトロ社のICP発光分光分析装置は、ユニークなパッシェンルンゲCCD光学系を搭載したマルチ分析タイプ。「SPECTRO ARCOSシリーズ」は分解能やハロゲン元素の測定などで最高クラスの能力を発揮する。一般的にマルチタイプに搭載される光学系は、測定対象の元素(測定波長)によって、例えば、レアメタル元素などは分解能が著しく悪くなってしまう欠点があったが、「SPECTRO ARCOS シリーズ」の光学系では高分解能で測定可能。また、波長130nm~175nmのVUV(極真空紫外)の測定も可能なので塩素、臭素、ヨウ素といったハロゲン元素も測定できる。「SPECTRO GENESIS」は小型で低価格な汎用モデル。卓上サイズながら、幅広い用途で利用できる十分な性能をもっている。
ICP質量分析装置の「SPECTRO MS」は無機分析に関連する6Li から238U までの質量範囲において全元素同時分析が可能な唯一の市販装置。この技術は、二重収束型質量分析計と4,800chの新型半導体検出器(DCD:Direct Charge Detector) の組み合わせで実現。従来の1元素(質量数)毎のスキャンによって多元素を測定する方式ではなく、6Li から238U までの全元素(質量数)を同時測定できるため、分析のスループットが大きく向上する。

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