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センサーズ･アンリミッテド､太陽電池検査にSWIRカメラ
June 12, 2009, プリンストン--センサーズ･アンリミッテド(Sensors Unlimited, Inc)の高解像度､短波長赤外(SWIR)ラインスキャンカメラが太陽電池の製造歩留まり改善に使用されている｡
同社によると､SWIR技術は太陽電池の薄膜､集中型PV､結晶セルの品質モニタに適しており､最終のモジュールアセンブリまでの太陽電池製造工程効率化を極限まで進める｡
0.9-1.7μmで動作するInGaAsベースSWIRカメラはシリコンブールやウエハの検査に適している､これは材料が1.2μm以上の波長に対して透過性があるためだ｡シリコンブール､ブリック､インゴットを､モノクリスタル､マルチクリスタル太陽電池製造のためのウエハにスライスする前にカメラによりボイドを発見する｡未加工のウエハ､太陽電池完成品､電気生成パネルに実装された薄膜の隠れた応力亀裂も発見できる｡シリコンウエハ対側のソーマーク､材料内部の欠陥の発見も可能｡また､電池に順方向バイアスをかけて電界発光させ､電池の効率や均一性の評価にSWIRカメラを使う｡電池製造工程の改善､同じ効率の電池をモジュールにアセンブリすることにも貢献できる｡
グッドリッチ(Goodrich Corporation)の子会社､センサーズ･アンリミッテドは､最先端のInGaAsイメージング技術を用いてNIRおよびSWIRカメラ､システムを設計､製造している｡産業用､商用､軍や農業､研究市場向けと幅広い｡
