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InterOpto/BioOpto　出展製品特集　詳細

スリットスキャン式ビームプロファイラ

掲載日：2013/10/13

OPHIR-PHOTON（オフィール社レーザ計測機器グループ）の最新バージョンのスリットスキャン式ビームプロファイラ・ナノスキャンV2は、小スポット計測、UV〜FIR、ワイドダイナミックレンジ、ダイレクト入射、高出力ビーム解析：最大出力100W。GUI機能により、小さなノート型PCから、マルチモニタのデスクトップまで、どんなサイズのディスプレイにおいても操作性に優れたソフトウェアも充実。