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テクトロニクス、100G Short Reachの自動テスト・ソリューションを発表

September, 30, 2015, 東京--テクトロニクスは、業界初の完全自動TDEC(Transmitter and Dispersion Eye Closure)測定および100GBASE-SR4のコンフォーマンス・テスト・ソリューションを発表した。
 IEEE 802.3bm規格の登場以降、低コストの100G光製品が市場に広く受け入れられている。今回発表するテスト・ソリューションは、新たに設計する光製品がこの規格に適合していることを確認する複雑なプロセスを迅速に、簡単に実行する。
 IEEE 802.3bmの規格努力とインターオペラビリティの保証により、すでに活発かつ競合状態にある100G光モジュール/システム市場はさらに広がっている。このため、コンフォーマンス・テストはますます重要になっており、強力な検証ツールが求められている。TDEC測定と100GBASE-SR4のフル・コンフォーマンス・テスト・サポートの追加により、テクトロニクスはターンキー、完全自動の光ソリューションを提供する。このソリューションは、80C15型光モジュールを装備したDSA8300型サンプリング・オシロスコープをベースにしており、25.781Gbps以上のフル・クロック・リカバリとTDEC自動化をサポートする、唯一の光ツール。
 光コンフォーマンス・テストでは、低ノイズによるアクイジションが必要になる。テクトロニクスは光アクイジション技術開発に注力しており、今回の発表ではフル・クロック・リカバリであっても業界で最も低いノイズ、高感度を実現している。テクトロニクスの80C15型光モジュールの優れたノイズ性能レベルは、光業界における広範囲のテスト・ニーズに対応しており、TDECおよびSR4のコンフォーマンス測定にも完全に適合する。